De belangrijkste geometrisch kenmerk is de vlakheid van het volledige waferoppervlak.
Daarnaast wordt wafers gecontroleerd op insluitingen en oppervlakteschade. De meetsnelheid eisen voor procesbewaking zijn soms erg hoog.
-
Toepassingen
- 3D-vrijgevormde werkstukken
- Geëxtrudeerde werkstukken
- Matrijzen
- Halfgeleiderwerkstukken
- Lithografische structuren
- Metaal-kunststof composiet werkstukken
- Prismatische werkstukken
- Gestanste en gebogen onderdelen
- Verpakking
- As-naafverbindingen
- Assen en assen
- Werkstukken met micro-eigenschappen
- Werkstukken met optische functionele oppervlakken
- Gereedschappen met geometrisch gedefinieerde snijkanten
- Gereedschappen met geometrisch onbepaalde snijkanten
- Tandwielen
- Cilindrische werkstukken
- Industrieën
- Producten
-
Dienst
- Diensten voor programmering
- Analyse van de geschiktheid van instrumenten, geschiktheid van meetprocessen en traceerbaarheid
- Meetdiensten met multisensortechnologie of computertomografie
- Reparatie
- Onderhoud
- Kalibratie
- Montage, verhuizing en inbedrijfstelling
- Aanpassingen en updates
- Cursussen
- Downloads
- Over Werth
- Carrière
- Stichting
- Publicaties
- Downloads
