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晶片 - 作为集成电路基础的硅圆片

晶片

作为集成电路基础的硅圆片

最重要的几何特性是整个晶圆表面的平整度。
同时还要检查晶圆是否有夹杂物和表面损伤。工艺监控对测量速度的要求有时非常高。

ScopeCheck® S

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用于测量小型工件的多传感器坐标测量机
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Werth Image Processing BV
传感器
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色谱聚焦点传感器 CFP
传感器
色谱聚焦点传感器 CFP
色差对焦变焦 CFZ
传感器
色差对焦变焦 CFZ
Werth Zoom
辅料
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具有恒定放大率的远心镜头
辅料
具有恒定放大率的远心镜头
换热器回缩轴
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换热器回缩轴
ScopeCheck® FB

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坚固的设计,固定的入口,用于经济的生产控制,测量不确定性低
ScopeCheck® FB
Werth Image Processing BV
传感器
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色谱聚焦点传感器 CFP
传感器
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色差对焦变焦 CFZ
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色度聚焦线传感器 CFL
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辅料
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具有恒定放大率的远心镜头
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换热器回缩轴
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VideoCheck® S

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用于测量较小工件的精密多传感器三坐标测量机
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色谱聚焦点传感器 CFP
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色差对焦变焦 CFZ
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纳米聚焦探针NFP
传感器
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具有恒定放大率的远心镜头
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VideoCheck® FB

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用于测量大型工件的精确的多传感器坐标测量机,可根据要求提供多个Z轴。
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色谱聚焦点传感器 CFP
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纳米聚焦探针NFP
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辅料
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具有恒定放大率的远心镜头
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VideoCheck® HA

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用于测量大型工件的高精度多传感器三坐标测量机,可根据要求配备多个 Z 轴
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色谱聚焦点传感器 CFP
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色差对焦变焦 CFZ
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具有恒定放大率的远心镜头
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换热器回缩轴
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VideoCheck® UA

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超精密多传感器三坐标测量机
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色谱聚焦点传感器 CFP
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色差对焦变焦 CFZ
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纳米聚焦探针NFP
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具有恒定放大率的远心镜头
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