Rychlé měření tloušťky povlaku pomocí chromatického senzoru

Tloušťky nátěrů, kterými může pronikat světlo od viditelného až po infračervený rozsah, lze měřit pomocí snímače Chromatic Focus Point, snímače Chromatic Focus Line a multisenzoru Chromatic Focus Zoom (patentovaná optická měřicí hlava s integrovaným zpracováním obrazu a snímačem chromatické vzdálenosti). Pomocí bodových snímačů CFP a CFZ lze měřit tloušťku povlaku specificky v různých polohách na obrobku nebo jako obrysové snímání s vysokou hustotou bodů na celém povrchu obrobku. Lineární snímání CFL vede k rychlostním výhodám při měření v porovnání s CFP a CFZ. Lze také vypočítat objem mezi rozhraními.
Díky interferometrickému principu je měřitelný rozsah tloušťky povlaku mezi 5 µm a 150 µm při použití viditelného světla a mezi 30 µm a 10 500 µm při použití infračerveného záření. Při chromatickém měření lze kromě měření "v obraze" v měřicím rozsahu senzoru, tj. bez pohybu os přístroje, zvětšit měřicí rozsah měřením "na obraze" s odpovídajícím přenastavením os přístroje. Výsledky měření závisí na indexu lomu materiálů, takže by měl být velmi přesně znám. Další možností je přímá kalibrace tloušťky povlaku pomocí jiných metrologických metod, jako je Werth Fiber Probe® nebo počítačová tomografie.

Typickými oblastmi použití pro měření tloušťky povlaku jsou tenké skleněné desky, fólie, vzduchové mezery, tloušťky nátěrů, ochranné povlaky na elektronických součástkách, destičky, membrány reproduktorů nebo balónkové katetry.