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Dr.-Ing. Siegfried Werth Stiftung

Förderung wissenschaftlicher Arbeiten auf dem Gebiet der berührungslosen dimensionellen Messtechnik

Nach dem Tod von Herrn Dr.-Ing. Siegfried Werth rief seine Witwe, Frau C. H. Maria Werth, im Jahr 1987 die Dr.-Ing. Siegfried Werth Stiftung ins Leben, die 1995 in eine rechtsfähige, gemeinnützige Stiftung übergeleitet wurde.

 
Vorstellung

Stiftung zum Gedenken an die zukunftsweisenden Entwicklungen und das Lebenswerk von Dr.-Ing. Siegfried Werth

Dr.-Ing. Siegfried Werth gründete 1951 eine Apparate- und Maschinenbaufirma in Düsseldorf, die Messgeräte und Messprofilprojektoren herstellte. 1958 siedelte das Unternehmen nach Gießen um, wo eine neue Fertigungsstätte errichtet wurde. Diese bildete die Grundlage für die heutige Werth Messtechnik GmbH, die in dieser Tradition international führend auf dem Gebiet der Koordinatenmesstechnik mit Optik, Taster, Computertomografie und Multisensorik tätig ist.

Zweck der Dr.-Ing. Siegfried Werth Stiftung ist die Förderung und Finanzierung wissenschaftlicher Arbeiten auf dem Gebiet der berührungslosen dimensionalen Messtechnik. Der Stiftungszweck wird insbesondere durch die Prämierung von wissenschaftlichen Arbeiten von Nachwuchswissenschaftlern nach Erlangung des ersten akademischen Grades auf dem Gebiet der industriellen Messtechnik oder verwandten Gebieten oder durch Vergabe von Forschungsaufträgen einschließlich Promotionsvorhaben an begabte Nachwuchswissenschaftler erfüllt.

Einziges Organ der Stiftung ist das Kuratorium. Ihm gehören vier ehrenamtliche Kuratoren an, aus deren Mitte der Vorsitzende des Kuratoriums für eine Amtszeit von 5 Jahren gewählt wird und der die Stiftung gemeinsam mit einem weiteren Mitglied in allen gerichtlichen wie auch außergerichtlichen Angelegenheiten vertritt. Sitz und Anschrift der Stiftung ist die Siemensstr. 19 in 35394 Gießen.

Vorstellung - Stiftung zum Gedenken an die zukunftsweisenden Entwicklungen und das Lebenswerk von Dr.-Ing. Siegfried Werth
 
Lebenslauf

Messtechnik-Entwickler und Unternehmer

Dr.-Ing. Siegfried Werth gründete eine Apparate- und Maschinenbaufirma, aus der später die Werth Messtechnik GmbH entstand, und ermöglichte mit der Entwicklung des ersten optischen Sensors für Messprojektoren die Automatisierung optischer Messungen.

Lebenslauf - Messtechnik-Entwickler und Unternehmer
1907

Geboren in Berlin

1926

Abitur in Berlin

1931

Maschinenbaustudium an der Technischen Hochschule Berlin

1931-1936

Assistenten-Tätigkeit an der Technischen Universität Berlin, am Institut für Werkzeugmaschinen und Fabrikbetrieb

1937

Promotion an der Technischen Universität Berlin

1936-1937

Betriebsingenieur bei BMW in Eisenach

1937-1939

Betriebsassistent in der Maschinenfabrik Augsburg-Nürnberg (MAN) in Nürnberg

1939-1941

Betriebsleiter im MAN-Werk in Augsburg und im Motorenwerk in Hamburg

1941

Handbuch für Maschinenarbeiter verfasst

1948

Selbstständiger Ingenieur in Düsseldorf

1951

Gründung der Werth Apparate- und Maschinenbaufirma in Düsseldorf, Konstruktion und Fertigung von Messgeräten für die Drahtindustrie

1951

Ziehsteinmessgerät Werth Panohol

1953

Entwicklung von Profilprojektoren

1955

Werth Record – ergonomischer Profilprojektor mit integriertem Strahlengang

1958

Neuer Unternehmensstandort in Gießen

1977

Werth Tastauge – erster Glasfasersensor für Mess- und Profilprojektoren

1979

Umfirmierung in Dr.-Ing. Siegfried Werth GmbH

1980

Werth Optimus CC – erster CNC-gesteuerter Messprojektor

1982

Verstorben in Gießen

 
Aktuelles

Dr.-Ing. Siegfried Werth Preis verliehen

Im Rahmen der Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft für angewandte Optik (DGaO) in Berlin prämierte die Dr.-Ing. Siegfried Werth Stiftung erneut eine wissenschaftliche Arbeit auf dem Gebiet der berührungslosen dimensionellen Messtechnik. Das Team der Werth Messtechnik gratuliert Herrn Dr. Marco Jagodzinski zu seiner ausgezeichneten Dissertation an der Technischen Universität Berlin. Prof. Dr.-Ing. Dirk Oberschmidt (links im Bild), Leiter des Fachgebiets Mikro- und Feingeräte ließ es sich nicht nehmen, persönlich an der Preisverleihung durch Dr.-Ing. Bernd-Jochen Schniewind, den Vorsitzenden der Dr.-Ing. Siegfried Werth Stiftung, teilzunehmen.

Aktuelles - Dr.-Ing. Siegfried Werth Preis verliehen
 
Preisträger und Geförderte

Hervorragende wissenschaftliche Arbeiten auf dem Gebiet der berührungslosen dimensionellen Messtechnik

Entsprechend dem Stiftungszweck wurden folgende jungen Wissenschaftler mit Preisen der Dr.-Ing. Siegfried Werth Stiftung ausgezeichnet oder wissenschaftliche Arbeiten durch Stipendien gefördert:

Preisträger und Geförderte - Hervorragende wissenschaftliche Arbeiten auf dem Gebiet der berührungslosen dimensionellen Messtechnik
1988

Dipl.-Ing. Wolfgang Rauh, Fraunhofer IPA, Stuttgart

Dr.-Ing. Siegfried Werth Preis
„Integration der Bildverarbeitung in Profilprojektoren“

1990

Dr.-Ing. habil. Reimar Lenz, TU München

Dr.-Ing. Siegfried Werth Preis
„Entwicklung einer hochauflösenden CCD-Kamera mit programmierbarer Auflösung“

1991

Dr.-Ing. Thomas Sefker, Universität GHS Essen

Dr.-Ing. Siegfried Werth Preis
„Verallgemeinerte Darstellung des Verhaltens isothermer Freistrahlen“

1994

Dr.-Ing. Christian Troll/Dipl.-Ing. Uwe Kipping, TU Chemnitz-Zwickau

Dr.-Ing. Siegfried Werth Preis
„Transformationsmeßsysteme mit Auswertung von Strichcodestrukturen zur absoluten Weg- und Winkelmessung“

1996

Dr.-Ing. Edgar Reiner Fischer, TU Stuttgart

Dr.-Ing. Siegfried Werth Preis
„Doppelheteroyn-Interferometrie zur Profil- und Abstandsmessung an optisch rauhen Oberflächen“

1998

Dr.-Ing. Dipl.-Phys. Ralph Peter Knorpp, Fraunhofer Institut Stuttgart

Dr.-Ing. Siegfried Werth Preis
„Formleitlinien für die Flächenrückführung Extraktion von Kanten und Radiusauslauflinien aus unstrukturierten 3D-Meßpunktmengen“

2000

Dr.-Ing. Horst Konstantin Mischo, Fraunhofer Institut Aachen

Dr.-Ing. Siegfried Werth Preis
„Das Virtuelle Interferometer – Modellgestützte Optimierung“

2000

Professor Dr.-Ing. Thomas Luhmann, Fachhochschule Odenburg

Sonderpreis
„Nahbereichs-Photogrammetrie“

2001

Dipl.-Ing. Simon Winkelbach, Technische Universität Braunschweig

Dipl.-Ing. Marcus Jacob, Fachhochschule Jena

Oliver Gächter/Roger Caviezel, Technikum Buchs, Schweiz

Sonderpreise zum 50-jährigen Firmenjubiläum der Werth Messtechnik GmbH

2003

Dr. Bodo Rosenhahn, Christian-Albrechts-Universität zu Kiel

Dr.-Ing. Siegfried Werth Preis
„Pose Estimation Revisited“

2005

Dr.-Ing. Marcus Petz, Technische Universität Braunschweig

Dr.Ing. Siegfried Werth Preis„Rasterreflexions-Photogrammetrie zur Messung spiegelnder Oberflächen“

2006

Dr.-Ing. Jens Pannekamp, Fraunhofer IPA, Stuttgart

Dr.-Ing. Siegfried Werth Preis
"Adaptive Verfahren zur Bewertung texturierter Oberflächen"

2008

Dipl.-Ing. Andreas Gläser, Westsächsische Hochschule Zwickau

- Promotionsstipendium -

2010

Dipl.-Phys.Daniel Weigel, Friedrich-Schiller-Universität Jena

Preis der Dr.-Ing. Siegfried Werth Stiftung für hervorragende Master- bzw. Diplomarbeiten
„Auflösungssteigerung bei optischen Rastermikroskopen mit Hilfe eines bildinvertierenden Interferometers“

2011

Dr. Marco Hornung, Friedrich Schiller Universität Jena

Preis der Dr.-Ing. Siegfried Werth Stiftung für hervorragende Dissertationen
„Mosaik-Gitter-Kompressor für Femtosekunden-Laserimpulse hoher Energie“

2012

Florian Flad, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

Preis für hervorragende Studienarbeiten
„Validierung einer Messunsicherheitssimulation für Röntgen-Computertomographie“

2012

Jan-Hinrich Eggers, Technische Universität Braunschweig

Preis für hervorragende Diplomarbeiten
„Entwicklung der Beleuchtungsoptik einer Mikrostreifenprojektionseinheit“

2012

Ekaterina Pshenay-Severin, Friedrich-Schiller-Universität Jena

Preis für hervorragende Dissertationen
„Design, Realisierung und Charakterisierung von optischen Metamaterialien mit negativer Brechzahl“

2012

Martin Peterek, Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen

Preis für hervorragende Diplomarbeiten
„Mosaik-Gitter-Kompressor für Femtosekunden-Laserimpulse hoher Energie“

2012

Dr.-Ing. Philipp Krämer, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

Preis für hervorragende Dissertationen
„Simulationsgestützte Abschätzung der Genauigkeit von Messungen mit Röntgen-Computertomographie“

2013

Frau Johanna Witte

Preis für besonders gute Studienarbeiten
„Konzept zur Messung tiefliegender Sacklochdurchmesser“

2013

Carl Alexander Schuler, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

Preis für hervorragende Dissertationen
„Erweiterung der Einsatzgrenzen von Sensoren für die Mikro- und Nanomesstechnik durch dynamische Sensornachführung unter Anwendung nanometeraufgelöster elektrischer Nahfeldwechselwirkung“

2013

Jens Thomas, Friedrich-Schiller-Universität Jena

Preis für hervorragende Dissertationen
„Mode control with ultra-short pulse written fiber Bragg gratings“

2014

Nicolai-Andre Brill, Fraunhofer IPT, Aachen

Preis für hervorragende Masterarbeiten
„Entwicklung eines polarisationssensitiven optischen Kohärenztomographie (OCT) Systems zur Echtzeitmessung semitransparenter Materialien“

2014

Marcus Große, Friedrich-Schiller-Universität Jena

Preis für hervorragende Dissertationen
„Untersuchungen zur korrelationsbasierten Punktzuordnung in der stereophotogrammetrischen 3D-Objektvermessung unter Verwendung von Sequenzen strukturierter Beleuchtung“

2014

Julia Kroll, Fraunhofer-Institut für Produktionstechnik und Automatisierung IPA, Stuttgart

Preis für hervorragende Dissertationen
„Aufgabenangepasste, kontrollierte Oberflächenextraktion aus 3D-Computertomographiedaten“

2014

Sebastian Pollmanns, Lehrstuhl für Fertigungsmesstechnik und Qualitätsmanagement Werkzeugmaschinenlabor WZL der RWTH Aachen

Preis für hervorragende Dissertationen
„Bestimmung von Unsicherheitsbeiträgen bei medizinischen Computertomografiemessungen für die bildbasierte navigierte Chirurgie“

2015

Michael Zürch, Friedrich-Schiller-Universität Jena

Preis für hervorragende Dissertationen
„High-Resolution Extreme Ultraviolet Microscopy“

2015

Mario Salzinger, Technische Hochschule Deggendorf

Preis für besonders gute Bachelorarbeiten
„Untersuchung der Filtereigenschaften beim Messen mit industrieller Computertomographie im Vergleich mit taktilen Messsystemen“

2015

Lizhuo Chen, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

Preis für hervorragende Dissertationen
„Light Refractive Tomography for Noninvasive Ultrasound Measurements in Various Media

2015

Wito Hartmann, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

Preis für hervorragende Dissertationen
„Mess- und Auswertestrategien zur modellbasierten Bewertung funktionaler Eigenschaften mikrostrukturierter Oberflächen“

2016

Ruedi Jung, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

Preis für hervorragende Masterarbeiten
„Untersuchungen zur Auswirkung verschiedener Einflussgrößen auf dimensionelle Computertomographie-Messungen“

2016

Angela Klein, Friedrich-Schiller-Universität Jena

Preis für hervorragende Dissertationen
„Scanning Near-Field Optical Microscopy: From Single-Tip to Dual-Tip Operation“

2017

Anton Sigl, Technische Hochschule Deggendorf

Preis für besonders gute Bachelorarbeiten
„Konstruktion und Bau eines modularen CT-Systems für Mikro- und Sub-µ-Anwendungen“

2017

Marc Fischer, Technische Universität Braunschweig

Preis für hervorragende Dissertationen
„Deflektometrie in Transmission – Ein neues Messverfahren zur Erfassung der Geometrie asphärischer refraktiver Optiken“

2017

Arno Klenke, Friedrich-Schiller-Universität Jena

Preis für hervorragende Dissertationen
„Performance Scaling of laser amplifiers via coherent combination of ultrashort pulses“

2018

Stefan Heist, Friedrich-Schiller-Universität Jena

Preis für hervorragende Dissertationen
„Hochgeschwindigkeits-3D Formvermessung mittels aperiodischer Sinus-Muster“

2018

Robert Kuschmierz, Technische Universität Dresden

Preis für hervorragende Dissertationen
„Interferometrische Lasersensoren zur dreidimensionalen, in-situ Formvermessung rotierender Körper“

2019

Sina Saravi, Friedrich Schiller Universität Jena

Preis für hervorragende Dissertationen
„Photon-pair generation in photonic crystal waveguides

2019

Joscha Maier, Deutsches Krebsforschungszentrum Heidelberg

Preis für hervorragende Dissertationen
„Artifact Correction and Real-Time Scatter Estimation for X-Ray Computed Tomography in Industrial Metrology“

2019

Klaus Bergner, Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik IOF Jena

Preis für hervorragende Dissertationen
„Zeit- und ortsaufgelöste Analyse der Wechselwirkung intensiver ultrakurzer Laserpulse mit Gläsern“

2019

Henrik Sprankel, Technische Hochschule Mittelhessen

Preis für besonders gute Bachelorarbeiten
„Untersuchung von Einflussgrößen auf die Längenmessabweichung bei der Koordinatenmessung mit Röntgen-Computertomografie“

2020

Silvan Othmar Ammann und Gilson Orlando, Interstaatliche Hochschule für Technik Buchs (NTB)

Preis für besonders gute Bachelorarbeiten
„Pattern Illumination for Lightfield Camera“

2020

Maximilian Heck, Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik IOF Jena

Preis für hervorragende Dissertationen
„Tailored light propagation by femtosecond pulse written long period fiber gratings“

2020

Martin Heusinger, Friedrich Schiller Universität Jena (Physikalisch-Astronomische Fakultät)

Preis für hervorragende Dissertationen
„Untersuchungen zu deterministischem und stochastischem Streulicht in hocheffizienten binären Beugungsgittern“

2020

Julian Wittmann, Technische Hochschule Deggendorf

Preis für hervorragende Masterarbeiten
„Ermitteln eines 3D-Modells des Innenvolumens von Schuhen mit der Hilfe von Computertomographie Daten“

2021

Patrick Steidl, Technische Hochschule Mittelhessen

Preis für besonders gute Bachelorarbeiten
„Beiträge zur Entwicklung eines Röntgendetektors für Koordinatenmessgeräte mit Röntgen-Computertomografie“

2021

Thomas Siefke, Friedrich Schiller Universität Jena

Preis für hervorragende Dissertationen
„Entwicklung von Drahtgitterpolarisatoren für Anwendungen im ultravioletten bis in den vakuumultravioletten Spektralbereich“

2021

Roy Seitz, OST Ostschweizer Fachhochschule

Preis für hervorragende Masterarbeiten
„StereoVision: High-Speed Stream-Based Parallel Dense Disparity Map Calculation“

2022

Hannes Radner, Technische Universität Dresden

Preis für hervorragende Dissertationen
„Adaptive optische Wellenfrontkorrektur unter Einsatz des Fresnel-Leitsterns und eines hybriden Regelkreises implementiert auf einem Field-Programmable System-on-Chip“

2022

Dr. Andreas Stark, Friedrich Schiller Universität Jena

Preis für hervorragende Dissertation
"Entwicklung von Drahtgitterpolarisatoren für Anwendungen im ultravioletten bis vakuumultravioletten Spektralbereich"

2022

Jan-Henrik Woltersmann, RWTH Aachen

Preis für besonders gute Bachelorarbeiten
"Investigation of generative models for defect segmentation on fine blanked parts"

2023

Marco Roth, OST Ostschweizer Fachhochschule

Preis für besonders gute Bachelorarbeiten
"Full-Arch-Scanner: Verfahren für die Vermessung und Modellierung von Zahnreihen"

2023

Dr. Marco Jagodzinski, Technische Universität Berlin

Preis für hervorragende Dissertation
"Optimierung der optischen Eigenschaften diamantzerspanter Beugungsgitter mit mehreren Freiheistgraden durch Minimierung der Maschinenkinematik"

2023

Dr. Martin Landmann, Friedrich Schiller Universität Jena

Preis für hervorragende Dissertation
"Schnelle und genaue 3D-Formvermessung mittels Musterprojektion und Stereobildaufnahme im thermischen Infrarot"

2023

Dr. Jiawei Sun, Technische Universität Dresden

Preis für hervorragende Dissertation
"Learning-based Three-Dimensional Optical Cell Rotation Tomography and Quantitative Phase Imaging Using Multi-Core Fibers"

2023

Professor Dr.-Ing. Gabriel Herl, Technische Hochschule Deggendorf

Preis für hervorragende Dissertation
"Multipositionale Röntgentomographie zur Vermeidung und Reduktion von Bildartefakten"

2023

Dr. Philip Trapp, Deutsches Krebsforschungszentrum Heidelberg

Preis für hervorragende Dissertation
"Novel Methods for the Reduction of Systematic and Statistical Measurement Deviations and Spatial Resolution Optimization in X-Ray Computed Tomography"

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